Méthodes d’examen – Examination methods

AFM (Atomic force microscopy) : Microscopie à force atomique.

DHSPI (Digital Holographic Speckle Pattern Interferometry) : Holographie numérique et interférométrie de Speckle.

FEG-SEM (Scanning electron microscopy with field emission gun) : Microscopie électronique à balayage à canon à émission de champ (MEB-FEG)*.

High resolution digital photography : Photographie numérique en haute résolution.

Infrared (IR) false colour photography : Photographie dans l’infrarouge (IR)*.

Infrared (IR) reflectography : Réflectographie infrarouge*.

Nuclear Magnetic Resonance Tomography (NMR Tomography) : Tomographie
par résonance magnétique nucléaire (tomographie RMN).

OCT (Optical coherent tomography) : Tomographie optique cohérente.

Raking light photography : Photographie en lumière rasante*.

SEM (Scanning electron microscopy) : Microscopie électronique à balayage (MEB)*.

T-Hz (Terahertz imaging) : Imagerie térahertz.

Ultraviolet (UV) induced fluorescence photography : Photographie de fluorescence sous ultraviolet (UV)*.

Visible light photography : Photographie en lumière visible*.

X-ray radiography : Radiographie X*.

Méthodes d’analyse par spectrométrie optique – Optical spectrometry analysis methods

FT-IR (Fourier Transform infrared reflectance spectroscopy) : Spectrométrie infrarouge par transformée de Fourier*.

FORS (Fibre optic reflectance spectroscopy) : Spectrométrie par réflexion à l’aide de fibre optique.

MNIR (Mid-near infrared reflectance spectroscopy) : Spectrométrie dans le proche et moyen infrarouge.

Raman (Raman spectroscopy) : Spectroscopie (ou spectrométrie) Raman*.

TCSPC (Measurement of luminescence decay lifetime with time-correlated single-photon counting) : Mesure de fluorescence par comptage de photon unique, corrélé en temps.

UV-Vis (Ultraviolet-visible reflectance and fluorescence spectroscopy) : Spectrométrie bimodale (réflexion et fluorescence) UV-Vis*.

Méthodes d’analyse par spectrométrie X – X-ray spectrometry methods

EDXRD (Energy dispersive X-ray diffraction) : Diffraction X par dispersion en énergie.

SEM-EDXA (Scanning electron microscopy with energy dispersive X-ray spectrometry) : Micro-analyse X couplée au microscope électronique à balayage (MEB-EDX)*.

XRD (X-ray diffraction) : Diffraction X*.

XRF (X-ray fluorescence analysis) : Analyse par fluorescence X (AFX)*.

Méthodes d’examen et d’analyse par rayonnement synchrotron – Synchrotron radiation (SR) induced examination and analytical techniques

SR-XRD (SR-X-ray diffraction) : Diffraction X par rayonnement synchrotron.

SR-XPS (SR-X-ray photoelectron spectroscopy) : Spectrométrie de photoélectrons induits par rayonnement synchrotron.

XANES (X-ray absorption near edge structures) : Spectrométrie d’absorption des rayons X au voisinage des discontinuités.

XAS (X-ray absorption spectroscopy) : Spectrométrie d’absorption de rayons X.

Méthodes d’analyse par faisceaux d’ions – Ion beam analysis methods

ERDA (Elastic recoil detection analysis) : Analyse par détection de recul élastique*.

IBA (Ion beam analysis) : Analyse par faisceau d’ions*.

IBIL (Ion beam induced luminescence) : Luminescence induite par faisceau d’ions.

NRA (Nuclear reaction analysis) : Analyse par réactions nucléaires*.

PESA (Proton elastic scattering analysis) : Analyse par diffusion élastique de protons.

PIGE (Particle induced gamma-ray emission) : Analyse par émission de rayons gamma induits par particules*.

PIXE (Particle induced X-ray emission) : Analyse par émission de rayons X induits par particule*.

RBS (Rutherford backscattering spectrometry) : Spectrométrie de rétrodiffusion Rutherford*.

STIM (Scanning transmission ion microscopy) : Microscopie à balayage par transmission d’ions.

Méthodes d’examen et d’analyse par faisceaux de neutrons – Neutron induced examination and analytical techniques

NAA (Neutron activation analysis) : Analyse par activation neutronique*.

ND (Neutron diffraction) : Diffraction neutronique.

Neutron induced prompt gamma tomography : Tomographie par gamma de capture induits par neutrons.

NR (Neutron radiography) : Neutronographie*.

NT (Neutron tomography) : Tomographie neutronique.

PGAA (Prompt gamma activation analysis) : Analyse par gamma de capture.

SANS (Small-angle neutron scattering) : Diffusion de neutrons aux petits angles.

TOF-ND (Time-of-flight neutron diffraction) : Diffraction neutronique par temps de vol.

Pour plus de détails, se reporter aux définitions et aux équivalents dans diverses langues européennes proposées par la base CAMEO (http://cameo.mfa.org/​wiki/​Main_Page) – For more details, one can refer to the definitions and the equivalent terms in various European languages proposed by CAMEO base.

Les techniques repérées par le symbole * figurent dans la base CAMEO au 22/06/2016 – Techniques tracked with * are included in CAMEO base on June 22nd 2016.